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机译:具有元素文化的半导体晶片以及用于测量半导体晶片传感器上的传感器元件的过程
公开/公告号ITMI20082274A1
专利类型
公开/公告日2009-06-28
原文格式PDF
申请/专利权人 ROBERT BOSCH GMBH;
申请/专利号IT2008MI02274
发明设计人 BENZEL HUBERT;GUENSCHEL ROLAND;HOLGER ROSS;GUENSCHEL HARALD;
申请日2008-12-19
分类号
国家 IT
入库时间 2022-08-21 19:24:53
机译: 具有元素文化的半导体晶片以及用于测量半导体晶片传感器上的传感器元件的过程
机译: 具有多种传感器元件的半导体晶片以及用于测量半导体晶片上的传感器元件的方法
机译: 具有多个传感器元件的半导体晶片以及用于测量半导体晶片上的传感器元件的方法