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CMP SLURRY COMPOSITION AND PROCESS FOR PLANARIZING COPPER CONTAINING SURFACES PROVIDED WITH A DIFFUSION BARRIER LAYER

机译:扩散阻挡层提供的含铜表面的CMP浆液组成和工艺

摘要

A CMP slurry composition for planarizing surfaces comprising copper and a diffusion barrier layer comprising: an abrasive, an oxidizer, a corrosion inhibitor, amonomeric polyhydroxy compound, a base, the slurry composition having a pH of from 7 to 13
机译:一种用于使表面平坦的CMP浆料组合物,其包含铜和扩散阻挡层,所述扩散阻挡层包含:磨料,氧化剂,腐蚀抑制剂,单体多羟基化合物,碱,所述浆料组合物的pH为7-13

著录项

  • 公开/公告号WO2009056491A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BASF SE;YANG KAI;

    申请/专利号WO2008EP64434

  • 发明设计人 YANG KAI;

    申请日2008-10-24

  • 分类号C09G1/02;H01L21/321;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 19:19:02

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