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Xe preamorphising implantation

机译:车辆预非晶化植入

摘要

A SOI substrate (101) is preamorphized by ion implanting Xe 15 prior to forming source/drain extensions (21) and source/drain regions (41), thereby virtually eliminating or significantly reducing floating body effects. Other aspects comprise ion implanting a Xe2+ into a bulk silicon or SOI substrate to effect preeamorphization prior to forming source/drain extensions and regions having shallow junctions with reduced vertical and lateral straggle.
机译:在形成源极/漏极延伸部分(21)和源极/漏极区域(41)之前,通过离子注入Xe 15使SOI衬底(101)预非晶化,从而实际上消除或显着降低了浮体效应。其他方面包括将离子Xe2 +注入体硅或SOI衬底中,以在形成源极/漏极延伸区和具有浅结且垂直和横向杂散减小的区域之前实现预变形。

著录项

  • 公开/公告号EP1511071A3

    专利类型

  • 公开/公告日2009-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;

    申请/专利号EP20040078020

  • 发明设计人 BUYNOSKI MATTHEW STEPHEN;NG CHE-HOO;

    申请日2002-04-05

  • 分类号H01L21/265;H01L21/336;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:18:46

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