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Ionization Gauge and Method for Determining a Total Ion Pressure

机译:电离规和确定总离子压力的方法

摘要

In an ionization gauge, the effect of X-rays emitted when a collimated electron beam strikes grid surfaces in the gauge structure is reduced by a louvered beam stop. The louvered beam stop creates shadow regions having no X-rays, thus minimizing the amount of X-rays striking the collector plate and reducing the X-ray effect portion of the residual current.
机译:在电离规中,准直的电子束撞击规规结构中的栅格表面时发出的X射线的影响可通过百叶窗挡片降低。百叶窗式挡光板会产生没有X射线的阴影区域,从而最大程度地减少撞击集电板的X射线量,并减少剩余电流的X射线效应部分。

著录项

  • 公开/公告号EP1611593B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-09-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFICON INC;

    申请/专利号EP20020808369

  • 发明设计人 ELLEFSON ROBERT E.;FREES LOUIS C.;

    申请日2002-05-28

  • 分类号H01J41/04;G01L21/32;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:18:30

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