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Crossings of isolation trenches of the soi - technology

机译:道路隔离沟的穿越-技术

摘要

The present invention relates to the geometric configuration (layout) of crossing points and mouths of isolation trenches (trench) with a high aspect ratio for trench isolated smart power technologies with thicknesses (about 50 μm thick) active layers in soi - silicon wafers. By means of the geometric configuration (layout) of the isolation trenches, the manufacturing process is simplified. The number of production steps required is reduced. Error rate and the manufacturing costs are reduced.
机译:本发明涉及具有高纵横比的隔离沟槽(沟槽)的交叉点和口的几何构型(布局),用于硅晶片中具有厚度(约50μm厚)的有源层的沟槽隔离智能功率技术。通过隔离沟槽的几何构造(布局),简化了制造过程。减少了所需的生产步骤。降低错误率并降低制造成本。

著录项

  • 公开/公告号DE102008029235B3

    专利类型

  • 公开/公告日2009-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20081029235

  • 发明设计人

    申请日2008-06-19

  • 分类号H01L21/762;H01L27/12;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:09:07

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