要解决的问题:提供一种有限元分析设备,一种有限元分析方法和一种计算机程序,即使在要被检体为对象的情况下,也可以减少操作时间,同时减少操作处理负荷,而不必以指数方式增加操作时间。分析的形状复杂。
解决方案:对于属于最上层层次的每个节点,根据变分原理或积分方程计算残差,并针对每个节点计算节点位移相对于计算出的残差的变化量。根据计算出的变化量,更新每个层次的节点位移以获得位移和应力,从而计算属于下一层次的每个节点的残差。根据计算出的残差,获得位移和应力。如果层次不是最后一个,则执行类似的过程以更新位移和应力。如果层次结构是最后一个层次结构,并且如果所有计算的层次结构的残差都大于预定值,则根据更新的位移,应力和残差从最上层的层次结构重复此过程。如果残差不大于预定值,则将残差作为收敛解输出。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010061177A
专利类型
公开/公告日2010-03-18
原文格式PDF
申请/专利权人 OSAKA UNIV;
申请/专利号JP20060347739
申请日2006-12-25
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:04:45