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Test handler automatic contactor cleaner methods and surrogate cleaning device

机译:测试处理器自动接触器清洁方法和替代清洁设备

摘要

Methods and devices are disclosed for cleaning contactors equipped with contact pins such as pogo pins include steps which may be performed in concert with common semiconductor device testing processes using automatic test equipment and associated handlers. The preferred embodiments of the invention include method steps for mounting a surrogate cleaning device in a tester load board socket and applying the contact pins associated with automatic test equipment to the surrogate cleaning device for cleaning.
机译:公开了用于清洁配备有接触针(例如弹簧针)的接触器的方法和设备,该方法和设备包括可以与使用自动测试设备和相关联的处理器的普通半导体器件测试过程相一致地执行的步骤。本发明的优选实施例包括用于将替代清洁装置安装在测试仪负载板插座中并将与自动测试设备相关联的接触销施加到替代清洁装置以进行清洁的方法步骤。

著录项

  • 公开/公告号US7772830B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JERRY HSU;BYRON GIBBS;

    申请/专利号US20060367957

  • 发明设计人 JERRY HSU;BYRON GIBBS;

    申请日2006-03-03

  • 分类号G01R31/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:48:26

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