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METHOD FOR INSPECTING ELECTRON EMISSION UNIFORMITY OF ELECTRON EMITTERS IN LARGE-SIZED FIELD EMISSION DEVICE

机译:大型场发射装置中电子发射器的电子发射均匀性检查方法

摘要

PURPOSE: a kind of electron emitter large size feds (LFED) checking uniform electron emission be provided to economically exploitation LFED by verifying bad electronics from electronic emitter. ;CONSTITUTION: electron beam (I) injects electronic emitter (11) and is arranged in a cathode conductor. Electron injection electronics beam impacting electron emitter and electronics come out. The electronics is detected from electronic emitter. The electronics of uniformity detection is examined. Electronics amplifies (one) by current amplifier, and confirms by using detector (30). ;The 2010 of copyright KIPO submissions
机译:目的:通过验证电子发射器中不良的电子设备,将一种检查均匀电子发射的大尺寸电子发射器(LFED)提供给经济利用LFED。 ;组成:电子束(I)注入电子发射器(11),并布置在阴极导体中。电子注入电子束撞击电子发射器,电子器件出来。从电子发射器检测到电子设备。检查均匀性检测的电子设备。电子元件通过电流放大器放大(一个),并使用检测器(30)进行确认。 ; 2010年版权KIPO提交文件

著录项

  • 公开/公告号KR20100073524A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CEBT CO. LTD.;

    申请/专利号KR20080132225

  • 发明设计人 KIM HO SEOB;

    申请日2008-12-23

  • 分类号H01J9/42;H01J1/30;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:32:21

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