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A process for the preparation of a semiconductor device having a dielectric gate layer with a high k and a gate electrode of metal

机译:一种具有高k介电栅极层和金属栅电极的半导体器件的制备方法

摘要

A method for making a semiconductor device is described. That method comprises forming a first dielectric layer on a substrate, a trench within the first dielectric layer, and a second dielectric layer on the substrate. The second dielectric layer has a first part that is formed in the trench and a second part. After a first metal layer with a first workfunction is formed on the first and second parts of the second dielectric layer, part of the first metal layer is converted into a second metal layer with a second workfunction.
机译:描述了一种制造半导体器件的方法。该方法包括在基板上形成第一电介质层,在第一电介质层内的沟槽以及在基板上的第二电介质层。第二介电层具有形成在沟槽中的第一部分和第二部分。在第二介电层的第一和第二部分上形成具有第一功函数的第一金属层之后,将第一金属层的一部分转换为具有第二功函数的第二金属层。

著录项

  • 公开/公告号DE112005002158B4

    专利类型

  • 公开/公告日2010-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20051102158T

  • 发明设计人

    申请日2005-08-22

  • 分类号H01L21/8238;H01L21/283;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 18:29:07

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