机译:X射线荧光透视系统,用于例如在医学领域中用于指示待分析对象的射线照相的计算机断层摄影术,其检测器元件的宽度从X射线焦点下方的中心列到其他列的宽度减小
公开/公告号DE102009010290A1
专利类型
公开/公告日2010-09-02
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20091010290
发明设计人 POPESCU STEFAN;
申请日2009-02-24
分类号H05G1/02;A61B6/03;G01N23/04;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 18:28:26