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DELAY COMPARATOR CIRCUIT, DELAY COMPARISON METHOD, DELAY CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

机译:延迟比较器电路,延迟比较方法,延迟电路和半导体集成电路

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a delay comparator circuit for comparing delay differences (phase differences) in a plurality of delay circuits with high precision.;SOLUTION: The delay comparator circuit is configured of a plurality of delay lines 1 and 2, a plurality of oscillator auxiliary circuits 6, 8; 7, 9 for oscillating each of the delay lines, a plurality of counters 3 and 4 for counting the oscillation outputs of the oscillated delay lines to calculate each count value, and a comparison part 5 for comparing each count value with a reference count value.;COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种延迟比较器电路,用于高精度地比较多个延迟电路中的延迟差(相位差)。解决方案:延迟比较器电路由多条延迟线1、2,多条延迟线构成。振荡器辅助电路6、8;用于使每个延迟线振荡的7、9,用于对振荡的延迟线的振荡输出进行计数以计算每个计数值的多个计数器3和4,以及用于将每个计数值与基准计数值进行比较的比较部分5。 ;版权:(C)2011,日本特许厅和INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2010288142A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU SEMICONDUCTOR LTD;

    申请/专利号JP20090141353

  • 发明设计人 KOJIMA KAZUMI;

    申请日2009-06-12

  • 分类号H03K5/26;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:20:12

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