要解决的问题:提供一种即使在制造装置使用多个处理室的情况下,也能够在不俯瞰会引起不良品的处理室的情况下,对不良因素进行估计的不良因素推定方法。
解决方案:该方法包括以下步骤:为每个生产线生成一个划分表(过程103);使用该划分表估算每个生产线是否导致缺陷产品的步骤(过程103,过程104);以及输出估计结果的步骤,该估计结果是否是生产线造成缺陷产品的原因(处理107)。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP4633084B2
专利类型
公开/公告日2011-02-23
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号JP20070123428
发明设计人
申请日2007-05-08
分类号G05B19/418;G06Q50;G06Q50/04;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:20:08