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Failure factor estimation method, failure factor estimation device, program, and recording medium

机译:失效因素估计方法,失效因素估计装置,程序和记录介质

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a defective factor estimating method capable of estimating the defective factor without overlooking a processing chamber which causes a defective product even if a manufacturing device uses a plurality of processing chambers. PSOLUTION: The method comprises a step of producing a division table for every manufacturing line (process 103), a step of estimating whether or not each manufacturing line causes the defective product using this division table (process 103, process 104), and a step of outputting an estimated result whether or not the manufacturing line causes the defective product (process 107). PCOPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
机译:

要解决的问题:提供一种即使在制造装置使用多个处理室的情况下,也能够在不俯瞰会引起不良品的处理室的情况下,对不良因素进行估计的不良因素推定方法。

解决方案:该方法包括以下步骤:为每个生产线生成一个划分表(过程103);使用该划分表估算每个生产线是否导致缺陷产品的步骤(过程103,过程104);以及输出估计结果的步骤,该估计结果是否是生产线造成缺陷产品的原因(处理107)。

版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4633084B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP20070123428

  • 发明设计人

    申请日2007-05-08

  • 分类号G05B19/418;G06Q50;G06Q50/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:20:08

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