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Multilayer wiring structure study system

机译:多层布线结构学习系统

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer wiring structure examination system examining quality of the structure of multilayer wiring including the quality of manufacture.;SOLUTION: The multilayer wiring structure examination system for examining quality of the structure of multilayer wiring comprises a first database part 5 for storing information on the layer arrangement of the multilayer wiring; a second database part 7 for storing via hole information; an automatic wiring part 35A for virtually performing automatic arrangement of components used for the multilayer wiring to be inspected and automatic wiring based on design basic information and connection information about the multilayer wiring to be inspected, definition information stored in the first database part, and definition information stored in the second database part; and a wiring quality determining part 36A for determining the quality of the wiring by analyzing the result of wiring by the automatic wiring part.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种多层布线结构检查系统,用于检查多层布线结构的质量,包括制造质量。解决方案:用于检查多层布线结构的质量的多层布线结构检查系统包括第一数据库部分图5是用于存储有关多层配线的层配置的信息的图。第二数据库部分7,用于存储通孔信息;自动布线部35A,其基于设计基本信息和与要检查的多层布线有关的连接信息,存储在第一数据库部中的定义信息以及定义,虚拟地进行要检查的多层布线中使用的部件的自动布置和自动布线。存储在第二数据库部分中的信息;接线质量确定部件36A,用于通过分析自动接线部件的接线结果来确定接线质量。;版权所有:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4764319B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱電機株式会社;

    申请/专利号JP20060325818

  • 发明设计人 向井 栄治;

    申请日2006-12-01

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:18:58

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