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Method for fabricating a non-volatile memory including converting a silicon layer-which formed over a stacked structure having a charge storage layer-into an insulating layer

机译:制造非易失性存储器的方法,包括将形成在具有电荷存储层的堆叠结构上的硅层转换为绝缘层。

摘要

A method for fabricating a non-volatile memory is provided. The method includes a stacked structure and a consuming layer are formed in sequence over a substrate. A converting process is performed at a peripheral region of the consuming layer to form a first insulating layer. A conductive layer is formed over the stacked layer and the first insulating layer.
机译:提供了一种用于制造非易失性存储器的方法。该方法包括堆叠结构,并且在衬底上方顺序形成消耗层。在消耗层的外围区域执行转换工艺以形成第一绝缘层。在堆叠层和第一绝缘层上方形成导电层。

著录项

  • 公开/公告号US7883975B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MING-CHANG KUO;

    申请/专利号US20090615450

  • 发明设计人 MING-CHANG KUO;

    申请日2009-11-10

  • 分类号H01L21/4763;H01L29/788;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:07:40

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