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SIC semiconductor having junction barrier Schottky diode

机译:具有结势垒肖特基二极管的SIC半导体

摘要

A semiconductor device having a junction barrier Schottky diode includes: a SiC substrate; a drift layer on the substrate; an insulation film on the drift layer having an opening in a cell region; a Schottky barrier diode having a Schottky electrode contacting the drift layer through the opening of the insulation film and an ohmic electrode on the substrate; a terminal structure having a RESURF layer surrounding the cell region; and multiple second conductive type layers on an inner side of the RESURF layer. The second conductive type layers and the drift layer provide a PN diode. The Schottky electrode includes a first Schottky electrode contacting the second conductive type layers with ohmic contact and a second Schottky electrode contacting the drift layer with Schottky contact.
机译:具有结势垒肖特基二极管的半导体器件包括:SiC衬底;和基板上的漂移层;漂移层上的绝缘膜在单元区域中具有开口;肖特基势垒二极管,其具有通过绝缘膜的开口与漂移层接触的肖特基电极和基板上的欧姆电极。端子结构具有包围单元区域的RESURF层;在RESURF层的内侧上具有多个第二导电类型层。第二导电类型层和漂移层提供PN二极管。肖特基电极包括通过欧姆接触与第二导电类型层接触的第一肖特基电极和通过肖特基接触与漂移层接触的第二肖特基电极。

著录项

  • 公开/公告号US7863682B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EIICHI OKUNO;TAKEO YAMAMOTO;

    申请/专利号US20080078350

  • 发明设计人 TAKEO YAMAMOTO;EIICHI OKUNO;

    申请日2008-03-31

  • 分类号H01L29/24;H01L29/94;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:07:37

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