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ELECTRONIC BEAM DRAWING METHOD, ELECTRONIC BEAM DRAWING SYSTEM, MANUFACTURING METHOD FOR UNEVEN PATTERN CARRIER, AND MANUFACTURING METHOD FOR MAGNETIC DISK MEDIUM

机译:电子束绘制方法,电子束绘制系统,不均匀图案载体的制造方法以及磁碟介质的制造方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a more sharp developed pattern after electronic beam drawing for one pair of elements adjacent in a diagonal direction in a required drawn pattern.;SOLUTION: For at least one element A1 selected from pair of elements A1 and A2, one end position on the other element A2 side in deflection scan D1 in a radial direction Y for the one element A1 is set in a position apart from the other element A2 with respect to a radial end position y in the designed arrangement of the one element A1. Drawing is carried out so that a deflection scanning length L1 in the radial direction Y is shorter than the designed length L of the one element A1 in the radial direction Y.;COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT
机译:解决的问题:在电子束绘制之后,以所需的绘制图案在对角线方向上相邻的一对元件上获得更清晰的显影图案;解决方案:至少选择一个元素A 1 从一对元素A 1 和A 2 中,在偏转扫描D 1 <中,另一元素A 2 一侧的一个末端位置将一个元素A 1 的沿径向Y的/ Sub>设置在相对于另一个元素A 2 的径向端位置y相对于另一元素A 2 的位置。一个元素A 1 的设计排列。进行绘制以使径向Y上的偏转扫描长度L 1 小于一个元件A 1 在径向Y上的设计长度L。 ;版权:(C)2012,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2012185286A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJIFILM CORP;

    申请/专利号JP20110047692

  • 发明设计人 IZAWA SEIICHI;YAKUSHIJI TAKASHI;

    申请日2011-03-04

  • 分类号G03F7/20;G11B5/86;G11B5/84;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:43:50

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