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电子束描绘系统、方法、程序及直接描绘制造半导体器件方法

摘要

本发明提供一种电子束描绘系统,它具备:根据决定的处理顺序使用多个孔径掩模对多个批次按顺序描绘的描绘工具;管理所述多个孔径掩模的孔径管理工具;取得所述多个批次的处理请求的请求取得模块;存储分别与所述多个批次有关的处理步骤的处理步骤存储部;处理时间计算模块,其分别计算出根据所述处理步骤、使用分别与所述批次对应的所述孔径掩模来分别处理所述多个批次的处理时间;和根据所述处理时间决定所述多个批次的处理顺序的处理顺序决定模块。

著录项

  • 公开/公告号CN1681085A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东芝;

    申请/专利号CN200510063188.5

  • 发明设计人 中杉哲郎;

    申请日2005-04-05

  • 分类号H01L21/027;G03B7/20;H01J37/00;

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人陈海红;段承恩

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 16:38:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/027 授权公告日:20080123 终止日期:20100405 申请日:20050405

    专利权的终止

  • 2008-01-23

    授权

    授权

  • 2005-12-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-12

    公开

    公开

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