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LIGHT EXPOSURE PARAMETER DECIDING DEVICE, LIGHT EXPOSURE SYSTEM, CHECK SYSTEM, AND LIGHT EXPOSURE PARAMETER DECIDING METHOD

机译:曝光参数决定装置,曝光系统,检查系统以及曝光参数决定方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light exposure parameter deciding device capable of improving size uniformity of a pattern, a light exposure system, a check system, and a light exposure parameter deciding method.;SOLUTION: A light exposure parameter deciding device comprises a simulation execution part 112 for executing a lithography simulation using light strength information and a predetermined light exposure parameter corresponding to a plurality of regions on a light exposure mask and calculating a prediction pattern shape; and an evaluation value calculation part 113 for calculating an evaluation value of the prediction pattern shape. The light exposure parameter deciding device 100 repeats change of the light exposure parameter, and execution of the lithography simulation using the changed light exposure parameter until the evaluation value falls in a predetermined tolerance, and allocates the light exposure parameter to the region.;COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种能够提高图案的尺寸均匀性的曝光参数决定装置,曝光系统,检查系统以及曝光参数决定方法。模拟执行部分112,用于使用光强度信息和与曝光掩模上的多个区域相对应的预定曝光参数来执行光刻仿真,并计算预测图案形状;评估值计算部分113,用于计算预测图案形状的评估值。曝光参数决定装置100重复改变曝光参数,并使用改变后的曝光参数执行光刻模拟,直到评估值落入预定公差为止,并将曝光参数分配给该区域。 (C)2012,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2012043942A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOSHIBA CORP;

    申请/专利号JP20100183158

  • 发明设计人 KOTANI TOSHIYA;TAKIMOTO MICHIYA;

    申请日2010-08-18

  • 分类号H01L21/027;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:40:14

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