提供一种用于触控式阶梯式测距仪的摩擦力校正方法,该测距仪用于测量表面形状,该表面形状能够补偿由支点部分中的摩擦状况产生的摩擦力以及接触条件等的变化以产生触控笔压力。
解决方案:在这种用于触针式阶梯式测力计的摩擦力校正方法中,探针在可摆动地连接到支点的支撑体的一端连接有探针,并在一端与磁性位移传感器的磁性物质芯相邻连接。检测探针的垂直方向位移,该探针装有用于触笔压力发生器的磁性物质芯,用于向支撑体另一端的探针施加触笔压力,并测量由探针捕获的样品的表面形状通过围绕支撑体的支点的旋转运动通过位移传感器和探针压力发生器来操作探针,以测量探针降低时的加速度,从而发现下降时的力,探针升高时的加速度测量下降后由下限止动件等反弹的高度,以发现高程中的力,并且控制在触针压力产生器中流动的电流以使得在实际测量表面形状时,将下降力和高程力之和的一半施加到探头上。
版权:(C)2007和JPO&INPIT
公开/公告号JP4922583B2
专利类型
公开/公告日2012-04-25
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社アルバック;
申请/专利号JP20050235235
发明设计人 水谷 直樹;
申请日2005-08-15
分类号G01B5/20;G01B5/28;G01B7/34;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:37:09