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Single silicon-on-insulator (SOI) wafer accelerometer fabrication

机译:绝缘体上单晶硅(SOI)晶片加速度计的制造

摘要

Methods for creating at least one micro-electromechanical (MEMS) structure in a silicon-on-insulator (SOI) wafer. The SOI wafer with an extra layer of oxide is etched according to a predefined pattern. A layer of oxide is deposited over exposed surfaces. An etchant selectively removes the oxide to expose the SOI wafer substrate. A portion of the SOI substrate under at least one MEMS structure is removed, thereby releasing the MEMS structure to be used in the formation of an accelerometer.
机译:用于在绝缘体上硅(SOI)晶片中创建至少一个微机电(MEMS)结构的方法。根据预定图案蚀刻具有额外的氧化物层的SOI晶片。氧化物层沉积在暴露的表面上。蚀刻剂选择性地去除氧化物以暴露SOI晶片衬底。去除至少一个MEMS结构下的SOI衬底的一部分,从而释放出MEMS结构,以用于形成加速度计。

著录项

  • 公开/公告号US8057690B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LIANZHONG YU;

    申请/专利号US20090401850

  • 发明设计人 LIANZHONG YU;

    申请日2009-03-11

  • 分类号C03C15/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:27:02

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