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SILICON DEVICE STRUCTURE AND A SPUTTERING TARGET MATERIAL USED IN FORMING THE SAME, CAPABLE OF IMPROVING A SATURATION TRANSFER PROPERTY

机译:硅器件结构和形成相同靶材的溅射靶材,能够改善饱和转移特性

摘要

PURPOSE: A silicon device structure and a sputtering target material used in forming the same is provided to suppress the diffusion from a Cu-Mn-P alloy to an n·a-Si film by using a Cu-Mn-p alloy.;CONSTITUTION: A gate electrode layer(10) is formed on a glass substrates(11). A gate insulating layer(9) is formed on the gate electrode layer. An amorphous silicon(8) is formed on the gate insulating layer. An n·a-Si film(6) is formed on the amorphous silicon. An Si oxide film(5) is formed on the n·a-Si film. A Cu alloy film(4) is formed on the Si oxide film.;COPYRIGHT KIPO 2012
机译:用途:提供一种硅器件结构和用于形成该器件的溅射靶材料,以通过使用Cu-Mn-p合金抑制从Cu-Mn-P合金向n&a-Si膜的扩散。 :在玻璃基板(11)上形成有栅电极层(10)。在栅电极层上形成栅绝缘层(9)。在栅极绝缘层上形成非晶硅(8)。在非晶硅上形成n a-Si膜(6)。在n a-Si膜上形成氧化硅膜(5)。在氧化硅膜上形成Cu合金膜(4).; COPYRIGHT KIPO 2012

著录项

  • 公开/公告号KR20120004914A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI CABLE LTD.;

    申请/专利号KR20110025754

  • 发明设计人 TATSUMI NORIYUKI;TONOGI TATSUYA;

    申请日2011-03-23

  • 分类号H01L21/28;H01L21/203;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:10:45

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