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DEAD PIXEL COMPENSATING TEST APPARATUS FOR EFFICIENTLY TESTING A DEAD PIXEL COMPENSATION ALGORITHM

机译:有效测试失效像素补偿算法的失效像素补偿测试装置

摘要

PURPOSE: A dead pixel compensating test apparatus is provided to compensate a dead pixel of an image sensor in image data of an image sensor through a dead pixel compensation algorithm.;CONSTITUTION: A pattern generating unit(110) generates a programmable test pattern. A register array(120) stores the test pattern. A dead pixel compensating unit(130) receives the stored test pattern. The dead pixel compensating unit outputs compensation data by the dead pixel compensation algorithm. A determining unit(140) determines defect of the dead pixel compensation algorithm by comparison of the compensation data and the test pattern.;COPYRIGHT KIPO 2012
机译:用途:提供了一种盲像素补偿测试设备,以通过盲像素补偿算法补偿图像传感器的图像数据中的图像传感器的盲像素。组成:图案生成单元(110)生成可编程测试图案。寄存器阵列(120)存储测试图案。坏点补偿单元(130)接收所存储的测试图案。坏点补偿单元通过坏点补偿算法输出补偿数据。确定单元(140)通过将补偿数据和测试图案进行比较来确定坏点补偿算法的缺陷。; COPYRIGHT KIPO 2012

著录项

  • 公开/公告号KR20120045223A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-05-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SK HYNIX INC.;

    申请/专利号KR20100106634

  • 申请日2010-10-29

  • 分类号H04N5/335;H04N17/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:10:06

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