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机译:化学机械抛光装置及化学机械研磨方式
公开/公告号JP5161294B2
专利类型
公开/公告日2013-03-13
原文格式PDF
申请/专利权人 エバラ テクノロジーズ インコーポレーテッド;
申请/专利号JP20100284361
发明设计人 ヒューイ-ミン ワン;クニヒコ サクライ;ジェラルド モロニー;ジュン リュー;ピーター ラオ;
申请日2010-12-21
分类号B24B37/30;H01L21/304;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:56:21
机译: 研磨化学机械抛光装置和半导体晶片的方式
机译: 用于抛光晶片的化学机械抛光机,以及适合该机器的磨料传送装置
机译: 用于抛光材料薄片的化学机械抛光机以及安装在该机器上的磨料输送装置