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LOW TEMPERATURE LAYER TRANSFER PROCESS USING DONOR STRUCTURE WITH MATERIAL IN RECESSES IN TRANSFER LAYER, SEMICONDUCTOR STRUCTURES FABRICATED USING SUCH METHODS

机译:低温层的传热过程,采用在材料中含有材料的施主结构和传热层中的材料,采用这种方法制造的半导体结构

摘要

Methods of transferring a layer of semiconductor material from a first donor structure to a second structure include forming recesses in the donor structure, implanting ions into the donor structure to form a generally planar, inhomogeneous weakened zone therein, and providing material within the recesses. The first donor structure may be bonded to a second structure, and the first donor structure may be fractured along the generally planar weakened zone, leaving the layer of semiconductor material bonded to the second structure. Semiconductor devices may be fabricated by forming active device structures on the transferred layer of semiconductor material. Semiconductor structures are fabricated using the described methods.
机译:将半导体材料的层从第一施主结构转移到第二结构的方法包括在施主结构中形成凹槽,将离子注入施主结构中以在其中形成大体上平坦的,不均匀的弱化区域,以及在凹槽内提供材料。第一施主结构可以结合到第二结构,并且第一施主结构可以沿着大体上平坦的弱化区域断裂,从而留下半导体材料层结合到第二结构。可以通过在半导体材料的转移层上形成有源器件结构来制造半导体器件。使用所描述的方法来制造半导体结构。

著录项

  • 公开/公告号US2013175672A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SOITEC;

    申请/专利号US201313777231

  • 发明设计人 MARIAM SADAKA;IONUT RADU;

    申请日2013-02-26

  • 分类号H01L21/762;H01L29/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:52:44

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