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FIRST AND SECOND VOLTAGE MEASUREMENTS TO ADJUST A VOLTAGE MEASURER

机译:调整电压测量器的第一次和第二次电压测量

摘要

Examples disclose a processor with a measurement point to receive an input voltage and a voltage measurer to obtain a first voltage measurement. Further, the examples provide the processor with a switch, based on a signal, to enable a second voltage measurement at the measurement point. Additionally, the processor is to adjust the voltage measurer based on a difference between the first and second voltage measurements.
机译:示例公开了一种处理器,该处理器具有用于接收输入电压的测量点和用于获得第一电压测量值的电压测量器。此外,这些示例基于信号为处理器提供了开关,以能够在测量点进行第二电压测量。另外,处理器将基于第一电压测量值和第二电压测量值之间的差异来调整电压测量器。

著录项

  • 公开/公告号US2013024143A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TED A. HADLEY;

    申请/专利号US201213355315

  • 发明设计人 TED A. HADLEY;

    申请日2012-01-20

  • 分类号G06F19/00;G01R19/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:47:37

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