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OPTICAL MEASUREMENT ANALYSIS DEVICE, STORAGE ROOM, ELECTROMAGNETIC-WAVE GENERATING DEVICE, AND OPTICAL MEASUREMENT ANALYSIS METHOD

机译:光学测量分析装置,存储室,电磁波产生装置以及光学测量分析方法

摘要

There is provided an optical measurement analysis device capable of applying light to substantially the entire surface of a to-be-analyzed object for improving the analysis accuracy. The optical measurement analysis device according to the present embodiment includes a container, a light source, a light irradiation unit, a light reception unit, a spectroscope unit, and an analyzing unit for analyzing an optical spectrum obtained by the spectroscope unit. The container has an inner wall adapted to reflect light reflected by the to-be-analyzed object and light transmitted therethrough.
机译:提供了一种光学测量分析装置,该光学测量分析装置能够将光基本上施加到待分析对象的整个表面,以提高分析精度。根据本实施例的光学测量分析装置包括:容器,光源,光照射单元,光接收单元,分光镜单元以及用于分析由分光镜单元获得的光谱的分析单元。容器具有内壁,该内壁适于反射由被分析物反射的光和从中透射的光。

著录项

  • 公开/公告号US2013010294A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KYOKO MATSUDA;TOSHIYUKI OKUMURA;

    申请/专利号US201213531140

  • 发明设计人 KYOKO MATSUDA;TOSHIYUKI OKUMURA;

    申请日2012-06-22

  • 分类号G01J3/28;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:47:31

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