首页> 外国专利> Electromigration-resistant and compliant wire interconnects, nano-sized solder compositions, systems made thereof, and methods of assembling soldered packages

Electromigration-resistant and compliant wire interconnects, nano-sized solder compositions, systems made thereof, and methods of assembling soldered packages

机译:耐电迁移和顺应性的电线互连,纳米尺寸的焊料组合物,由其制成的系统以及组装焊接封装的方法

摘要

A nano-sized metal particle composite includes a first metal that has a particle size of about 50 nanometer or smaller. A wire interconnect is in contact with a reflowed nanosolder and has the same metal or alloy composition as the reflowed nanosolder. A microelectronic package is also disclosed that uses the reflowed nanosolder composition. A method of assembling a microelectronic package includes preparing a wire interconnect template. A computing system includes a nanosolder composition coupled to a wire interconnect.
机译:纳米级金属粒子复合物包括具有约50纳米或更小的粒度的第一金属。导线互连与回流的纳米焊料接触,并且具有与回流的纳米焊料相同的金属或合金成分。还公开了使用回流的纳米焊料组合物的微电子封装。组装微电子封装的方法包括准备导线互连模板。一种计算系统,包括与导线互连耦合的纳米焊料组合物。

著录项

  • 公开/公告号US8441118B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FAY HUA;

    申请/专利号US20090589409

  • 发明设计人 FAY HUA;

    申请日2009-10-22

  • 分类号H01L23/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:46:22

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号