首页> 外国专利> METRICS DETERMINATION FOR APPLICATION PROCESSES IN MAINFRAME ARCHITECTURE

METRICS DETERMINATION FOR APPLICATION PROCESSES IN MAINFRAME ARCHITECTURE

机译:主框架体系结构中应用过程的度量标准

摘要

Methods and systems for determining metrics for application processes (115) in mainframe architecture are described herein. The method includes identifying application processes (115) that have been executed based on information gathered from a scheduler. The application processes (115) are executed in the mainframe architecture. For each of the identified application processes (115), corresponding application data is fetched from an application database (185). The application data corresponding to each of the identified application processes (115) may be filtered to obtain metrics data, based on filtering rules. Based on the metrics data, one or more metrics corresponding to each of the identified application processes (115) may be determined.
机译:本文描述了用于确定大型机体系结构中的应用过程(115)的度量的方法和系统。该方法包括基于从调度器收集的信息来识别已经执行的应用过程(115)。应用程序进程(115)在大型机体系结构中执行。对于每个识别的应用程序进程(115),从应用程序数据库(185)中获取相应的应用程序数据。可以基于过滤规则来过滤与所标识的每个应用过程(115)相对应的应用数据,以获得度量数据。基于度量数据,可以确定与每个所标识的应用过程相对应的一个或多个度量(115)。

著录项

  • 公开/公告号IN2011MU03351A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN3351/MUM/2011

  • 发明设计人 PARAMASIVAN SENTHIL SIVAGANESH;

    申请日2011-11-29

  • 分类号G06Q30/02;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 16:41:12

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号