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APPARATUS FOR MEASURING CHIP LEAKAGE CURRENT AND TEMPERATURE

机译：测量芯片漏电流和温度的装置

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The apparatus has a linear outlet, which varies with temperature. The apparatus has a current inverter and an electronic module that digitizes the current inverter.

机译：该设备具有随温度变化的线性出口。该设备具有电流逆变器和将电流逆变器数字化的电子模块。

著录项

公开/公告号EP2175288A4

专利类型
公开/公告日2013-03-13

原文格式PDF
申请/专利权人 UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID;
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申请/专利号EP20080805308
发明设计人 AYALA RODRIGO JOSE LUIS;LOPEZ VALLEJO MARISA;ITUERO HERRERO PABLO;
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申请日2008-07-07
分类号G01R31/30;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 16:34:17

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