机译:Marko Bek等人在Powder Technol上发表的论文“用于测量颗粒材料内部摩擦的设备-颗粒摩擦分析仪”发表评论。 288(2016)255-265 [1]
机译:粒状材料内部摩擦测量装置-粒状摩擦分析仪
机译:使用PIV测量饱和非稳态多分散颗粒流中的颗粒温度
机译:一种用于测量芯片温度的测试设备,具有细粒度
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