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Handheld test probe assembly for non-contacting microwave measurements and method of using same

机译:用于非接触式微波测量的手持式测试探头组件及其使用方法

摘要

The invention relates to a handheld test probe assembly (TP) for non-contacting microwave measurements on a microwave transmission line under test (MLT), the test probe assembly (TP) comprising a microstrip line coupler (C) realized on a PCB board (B), with the ground (G) at the back side of the PCB board (B) being removed at an area of the test probe (TP) that in operation is located adjacent to the microwave transmission line under test (MLT). Also disclosed is the use of the handheld test probe assembly (TP) for the measurement on a microwave transmission line realized on a PCB board (B).
机译:本发明涉及一种用于在被测微波传输线上(MLT)进行非接触式微波测量的手持式测试探针组件(TP),该测试探针组件(TP)包括在PCB板上实现的微带线耦合器(C)。 B),将PCB板(B)背面的接地(G)在测试探针(TP)的某个区域移除,该探针在操作中位于与被测微波传输线(MLT)相邻的位置。还公开了手持式测试探针组件(TP)用于在PCB板(B)上实现的微波传输线上进行测量的用途。

著录项

  • 公开/公告号EP2573574A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EADS DEUTSCHLAND GMBH;

    申请/专利号EP20110007662

  • 发明设计人 KEIL TOBIAS;RIEDLE FANZ;

    申请日2011-09-21

  • 分类号G01R1/067;G01R1/07;G01R29/08;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 16:30:14

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