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Method for Wafer Dicing and Drilling through Anisotropic Etching after Local Amorphization using Laser Beam

机译:激光局部非晶化后通过各向异性刻蚀进行晶圆划片和钻孔的方法

摘要

PURPOSE: An anisotropic etching method and a dicing and drilling method using the same are provided to prevent the chipping of a wafer in the dicing and drilling operations. CONSTITUTION: A coating layer(20) is formed on one side of a wafer(10). The wafer is comprised of silicon or sapphire. The coating layer is eliminated by radiating laser. An establishment portion of the thickness of the wafer becomes amorphous material. A laser machining portion of the wafer is etched. The coating layer is one among a photosensitive polymer, a silicon nitride, and a silicon oxide.
机译:目的:提供各向异性蚀刻方法以及使用该方法的切割和钻孔方法,以防止在切割和钻孔操作中晶片碎裂。构成:在晶片(10)的一侧上形成涂层(20)。晶片由硅或蓝宝石组成。通过辐射激光消除涂层。晶片厚度的确定部分变成非晶材料。蚀刻晶片的激光加工部分。涂层是光敏聚合物,氮化硅和氧化硅中的一种。

著录项

  • 公开/公告号KR101222489B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20110020782

  • 发明设计人 신동식;서정;최상규;

    申请日2011-03-09

  • 分类号H01L21/78;H01L21/301;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:25:55

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