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OPTICAL WAVEGUIDE ELEMENT EVALUATION APPARATUS, AND OPTICAL WAVEGUIDE ELEMENT EVALUATION METHOD

机译:光学波导元件评估装置和光学波导元件评估方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical waveguide element evaluation apparatus that can separate stray light and evaluate distribution of optical angle distribution in optical waveguide elements.;SOLUTION: An optical waveguide element evaluation apparatus comprises optical path setting means (6 and 7) that form an image of a near field pattern 5 of the emitted light end face of an optical waveguide element in the air, a pinhole plate 14 provided with an aperture that transmits an imaged near field pattern 13, and a detector 18 that detects the spreading angle of light at the emitted light end face by using a far field pattern formed by light transmitted by the pinhole plate 14.;COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种光波导元件评估装置,其可以分离杂散光并评估光波导元件中的光角度分布。解决方案:光波导元件评估装置包括光路设置装置(6和7),在空气中形成光波导元件的出射端面的近场图案5的图像,针孔板14,该针孔板14具有使成像的近场图案13透射的开口和检测扩散角的检测器18通过使用由针孔板14透射的光形成的远场模式对发射光端面上的光进行分析;版权所有:(C)2014,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2014115249A

    专利类型

  • 公开/公告日2014-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号JP20120271474

  • 发明设计人 MIYAMOTO JIICHI;IWANABE YASUHIKO;

    申请日2012-12-12

  • 分类号G01M11/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:20:01

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