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Optical Waveguide Element Evaluation Apparatus and Optical Waveguide Element Evaluation Method

机译:光学波导元件评估装置和光学波导元件评估方法

摘要

The present invention provides an optical waveguide element evaluation apparatus in which stray light is separated and the distribution of light angles of an optical waveguide element can be evaluated. An optical waveguide element evaluation apparatus includes optical path setting devices that image a near-field pattern at an end face of emission light from an optical waveguide element in the air; a pinhole plate that includes opening portions which the imaged near-field pattern penetrates; and a detection unit that detects the spread angle of the light at the end face of the emission light using a far-field pattern formed of the light penetrating the pinhole plate.
机译:本发明提供一种光波导元件评价装置,其中,杂散光被分离,并且可以评价光波导元件的光角度的分布。光波导元件评价装置包括:光路设定装置,其在来自空气中的光波导元件的出射端面上对近场图案进行摄像;以及光路设定装置。针孔板,其包括成像的近场图案穿透的开口部分;检测单元使用由穿透针孔板的光形成的远场图案来检测光在发射光的端面上的扩散角。

著录项

  • 公开/公告号US2014160468A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号US201314102853

  • 发明设计人 YASUHIKO IWANABE;HARUKAZU MIYAMOTO;

    申请日2013-12-11

  • 分类号G01M11/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:10:02

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