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SEMICONDUCTOR DEVICE WITH A SILICON DIOXIDE GATE INSULATION LAYER IMPLANTED WITH A RARE EARTH ELEMENT AND METHODS OF MAKING SUCH A DEVICE

机译:具有掺杂有稀土元素的二氧化硅栅绝缘层的半导体器件及其制造方法

摘要

One illustrative method disclosed herein includes forming a gate insulation layer on a semiconducting substrate, performing an ion implantation process to implant a rare earth element into the gate insulation layer, and forming a silicon-containing gate electrode above the gate insulation layer comprising the implanted rare earth element. One illustrative device disclosed herein includes a gate insulation layer positioned on a semiconducting substrate, wherein the gate insulation layer is comprised of silicon dioxide and a rare earth element, and a silicon-containing gate electrode positioned on the gate insulation layer.
机译:本文公开的一种说明性方法包括:在半导体衬底上形成栅绝缘层;执行离子注入工艺以将稀土元素注入到栅绝缘层中;以及在包括注入的稀土的栅绝缘层上方形成含硅栅电极。地球元素。本文公开的一种说明性装置包括位于半导体衬底上的栅极绝缘层,其中该栅极绝缘层由二氧化硅和稀土元素组成,以及位于该栅极绝缘层上的含硅栅电极。

著录项

  • 公开/公告号US2014151818A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GLOBALFOUNDRIES INC.;

    申请/专利号US201213689936

  • 发明设计人 JAN HOENTSCHEL;STEFAN FLACHOWSKY;

    申请日2012-11-30

  • 分类号H01L21/28;H01L29/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:07:02

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