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CONTROLLING LATERAL TWO-DIMENSIONAL ELECTRON HOLE GAS HEMT IN TYPE III NITRIDE DEVICES USING ION IMPLANTATION THROUGH GRAY SCALE MASK

机译:通过灰阶离子注入离子控制III型氮化物中的二维二维电子气孔

摘要

A high electron mobility field effect transistor (HEMT) includes a two dimensional electron gas (2DEG) in the drift region between the gate and the drain that has a non-uniform lateral 2DEG distribution that increases in a direction in the drift region from the gate to the drain.
机译:高电子迁移率场效应晶体管(HEMT)在栅极和漏极之间的漂移区域中包含二维电子气(2DEG),该二维电子气具有不均匀的横向2DEG分布,该横向2DEG分布在从栅极开始的漂移区域中的方向上增加到下水道。

著录项

  • 公开/公告号US2014051221A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-02-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HRL LABORATORIES LLC;

    申请/专利号US201314063207

  • 发明设计人 SAMEH KHALIL;KARIM S. BOUTROS;

    申请日2013-10-25

  • 分类号H01L29/66;H01L21/265;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:05:59

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