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ION IMPLANTATION DEVICE AND A METHOD OF SEMICONDUCTOR MANUFACTURING BY THE IMPLANTATION OF BORON HYDRIDE CLUSTER IONS

机译:离子注入装置和硼氢化物簇离子注入的半导体制造方法

摘要

A method of manufacturing a semiconductor device includes the steps of: providing a supply of molecules containing a plurality of dopant atoms into an ionization chamber, ionizing said molecules into dopant cluster ions, extracting and accelerating the dopant cluster ions with an electric field, selecting the desired cluster ions by mass analysis, modifying the final implant energy of the cluster ion through post-analysis ion optics, and implanting the dopant cluster ions into a semiconductor substrate. In general, dopant molecules contain n dopant atoms, where n is an integer number greater than 10. This method enables increasing the dopant dose rate to n times the implantation current with an equivalent per dopant atom energy of 1/n times the cluster implantation energy, while reducing the charge per dopant atom by the factor n.
机译:一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤:将包含多个掺杂剂原子的分子供应到电离室中;将所述分子离子化成掺杂剂簇离子;用电场提取并加速掺杂剂簇离子;选择所述掺杂剂。通过质量分析获得所需的簇离子,通过分析后的离子光学器件修改簇离子的最终注入能量,并将掺杂剂簇离子注入半导体衬底中。通常,掺杂剂分子包含n个掺杂剂原子,其中n是大于10的整数。此方法可以将掺杂剂剂量率提高到注入电流的n倍,每当量掺杂剂原子的能量等于簇注入能量的1 / n倍。 ,同时将每个掺杂原子的电荷降低n倍。

著录项

  • 公开/公告号US2014061816A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEMEQUIP INC.;

    申请/专利号US201314073565

  • 发明设计人 THOMAS N. HORSKY;DALE C. JACOBSON;

    申请日2013-11-06

  • 分类号H01L21/265;H01L27/092;H01L29/66;H01L21/8238;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:03:57

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