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Semiconductor device with an oxide solder flow prevention area on a substrate and corresponding manufacturing method

机译:在衬底上具有防止氧化物焊料流动的区域的半导体器件及其制造方法

摘要

In a semiconductor device where a metal circuit layer (2) is disposed over a main planar surface of an insulating substrate (1), a semiconductor chip (7) is connected by way of a solder (6) to the metal circuit layer (2), and a metal terminal (10) is ultrasonically connected to the metal circuit layer (2), in which a solder flow prevention area (4a, 4b, 12a, 12b) comprising an oxide material is linearly formed between the semiconductor chip (7) and the ultrasonic metal bonding region (53) over the metal circuit layer (2). The oxide solder flow prevention area (4a, 4b, 12a, 12b) may be formed by local laser irradiation of the metal circuit layer (2). A mark (5) may be formed to the metal circuit layer (2), using an identical laser irradiation device.
机译:在将金属电路层(2)设置在绝缘基板(1)的主平面上的半导体装置中,半导体芯片(7)通过焊料(6)与金属电路层(2)连接。 ),并且将金属端子(10)超声连接到金属电路层(2),其中在半导体芯片(7)之间线性地形成包括氧化物的焊料防止流动区域(4a,4b,12a,12b) )和金属电路层(2)上的超声金属结合区域(53)。可以通过对金属电路层(2)进行局部激光照射来形成防止氧化物焊料流动的区域(4a,4b,12a,12b)。可以使用相同的激光照射装置在金属电路层(2)上形成标记(5)。

著录项

  • 公开/公告号EP2669938A3

    专利类型

  • 公开/公告日2014-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号EP20130169401

  • 发明设计人 HIYOSHI MICHIAKI;KUMAGAI YUKIHIRO;

    申请日2013-05-27

  • 分类号H01L21/60;H01L23/373;H01L23/544;H01L21/48;H01L25/07;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 15:47:50

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