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System and method for automatically detecting soft errors in latches of an integrated circuit

机译:自动检测集成电路锁存器中的软错误的系统和方法

摘要

With latch - block:(a) a plurality of concatenated latch-units, wherein each latch-unit a latch and a comparator comprises;(b) a parity bit latch which, with the comparator of the last of the plurality of concatenated latch-units is connected; and(c) a parity bit comparator in connection with the parity bit latch and with the comparator of the last of the plurality of latch-units.
机译:具有锁存器-块:(a)多个级联锁存器单元,其中每个锁存器单元具有锁存器和比较器;(b)奇偶校验位锁存器,其与多个级联锁存器中的最后一个的比较器一起-单元已连接; (c)与奇偶校验位锁存器和多个锁存器单元中的最后一个的比较器有关的奇偶校验位比较器。

著录项

  • 公开/公告号DE112004001843B4

    专利类型

  • 公开/公告日2014-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QIMONDA AG;

    申请/专利号DE20041101843T

  • 发明设计人 RONNY SCHNEIDER;

    申请日2004-09-24

  • 分类号H03K3/037;G06F11/10;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 15:38:10

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