机译:制备样品中待测目标结构的方法,涉及在具有z轴的显微镜光学系统的焦点上对目标结构成像,其中在目标结构上方或下方的样品区域中切割与z轴垂直的样品
公开/公告号DE102012016316A1
专利类型
公开/公告日2014-02-13
原文格式PDF
申请/专利权人 CARL ZEISS AG;
申请/专利号DE20121016316
申请日2012-08-10
分类号G01N1/28;G01N21/21;G02B21/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 15:37:55