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SENSING MEMORY CELLS COUPLED TO DIFFERENT ACCESS LINES IN DIFFERENT BLOCKS OF MEMORY CELLS

机译:在不同的记忆细胞块中耦合到不同访问线的传感记忆细胞

摘要

In an embodiment, a target memory cell in a first block of memory cells of a memory device and a target memory cell in a second block of memory cells of the memory device are sensed concurrently while a read voltage is applied to a selected access line coupled to the target memory cell in the first block of memory cells and while a read voltage is applied to another selected access line coupled to the target memory cell in the second block of memory cells.
机译:在一个实施例中,在将读取电压施加到耦合的选定访问线的同时,同时感测存储设备的第一存储单元中的目标存储单元和存储设备的第二存储单元中的目标存储单元。在向第一存储单元的目标存储单元中的目标存储单元施加电压的同时,将读取电压施加到与第二存储单元的目标存储单元耦合的另一选定访问线。

著录项

  • 公开/公告号US2015294727A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US201514747717

  • 发明设计人 KOJI SAKUI;

    申请日2015-06-23

  • 分类号G11C16/14;G11C16/26;G11C16/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:27:26

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