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Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International

召开年：1989
召开地：Washington, DC
出版时间：-

会议文集：-

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1.CMOS design for improved IC testability

机译：CMOS设计可改善IC可测试性
- 作者：Favalli;M.;Olivo;P.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
2.Combinational and sequential circuit fault diagnosis using AI techniques

机译：使用AI技术进行组合和顺序电路故障诊断
- 作者：Rogel-Favila;B.;Cheung;P.Y.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
3.Design and test in the universities

机译：高校设计与测试
- 作者：Al-Arian;S.A.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
4.Detection of transient faults in microprocessors by concurrent monitoring

机译：通过并发监视检测微处理器中的瞬时故障
- 作者：Khan;M.Z.;Tront;J.G.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
5.Diagnostics based on faulty signature

机译：基于签名错误的诊断
- 作者：Chan;J.C.;Womack;B.F.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
6.Fault diagnosis based on post-test fault dictionary generation

机译：基于测试后故障字典生成的故障诊断
- 作者：Kato;J.;Shimono;T.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
7.How much fault coverage is enough?

机译：多少故障覆盖率足够？
- 作者：Henshaw;B.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
8.International Test Conference 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time (Cat. No.89CH2742-5)

机译：1989年国际测试会议。会议记录。满足时间考验（目录号89CH2742-5）
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
9.Model engineering curricula for 'meeting the tests of time'

机译：“满足时间考验”的模型工程课程
- 作者：Absher;R.;Lecky;J.E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
10.A military test method for measuring fault coverage

机译：一种用于测量故障覆盖率的军事测试方法
- 作者：Debany;W.H.;Jr.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
11.Achieving ATE accuracy at gigahertz test rates: comparison of electronic and electrooptic sampling technologies

机译：以千兆赫测试速率实现ATE精度：电子和电光采样技术的比较
- 作者：Henley;F.J.;Choi;H.-J.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
12.On the design of multiple-input shift-registers for signature analysis testing

机译：用于签名分析测试的多输入移位寄存器的设计
- 作者：Olivo;P.;Damiani;M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
13.Parallel automated test pattern generation on the Connection Machine

机译：在连接机器上并行自动生成测试图案
- 作者：Mayor;P.;Pitchumani;V.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
14.Practical considerations in benchmarking digital testing systems

机译：标定数字测试系统的实际注意事项
- 作者：Mourad;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
15.Program/pattern interface for silicon debug on a VLSI test system

机译：在VLSI测试系统上进行硅调试的程序/模式接口
- 作者：Moran;L.;Ritter;T.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
16.Standard testability bus-an applications example

机译：标准可测性总线-应用示例
- 作者：Turino;J.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
17.STEED-a testability enhancement expert design system

机译：STEED-可测试性增强的专家设计系统
- 作者：Koehler;D.A.;Somani;A.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
18.Test and design for testability of reconvergent fan-out CMOS logic networks

机译：收敛扇出CMOS逻辑网络可测试性的测试和设计
- 作者：Darlay;F.;Courtois;B.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
19.Testing and testability of programmable logic devices

机译：可编程逻辑器件的测试和可测试性
- 作者：VanDerwiele;J.M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
20.The push for test in universities

机译：推动大学考试
- 作者：Bouldin;D.W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
21.TSG-a test system generator for debugging and regression test of high-level behavioral synthesis tools

机译：TSG-测试系统生成器，用于高级行为综合工具的调试和回归测试
- 作者：Ernst;R.;Sutarwala;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
22.VLSI package reliability risk due to accelerated environmental testing

机译：加速环境测试导致VLSI封装可靠性风险
- 作者：Haupert;D.;Chen;F.-G.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
23.Design assurance in a university setting

机译：大学环境中的设计保证
- 作者：Rose K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
24.FUNTEST: a functional automatic test pattern generator for combinational circuits

机译：FUNTEST：用于组合电路的功能性自动测试模式发生器
- 作者：Al-Arian;S.A.;Nordenso;M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
25.Signature analysis with non-linear feedback shift registers

机译：非线性反馈移位寄存器的签名分析
- 作者：Marinos P.N.;Raina R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
26.Engineering curricular for 'meeting the tests of time'

机译：“满足时间考验”的工程课程
- 作者：Absher;R.;Lecky;J.E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
27.A fundamental approach to SPC implementation

机译：SPC实施的基本方法
- 作者：Vittrup M.N.;Frashure G.S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
28.R96MFX test strategy

机译：R96MFX测试策略
- 作者：Mann W.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
29.Twenty years of ATE

机译：ATE的二十年
- 作者：Gosling W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
30.An integrated analog test simulation environment

机译：集成的模拟测试模拟环境
- 作者：Webster B.A.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
31.Calculating the effects of linear dependencies in m-sequences used as test stimuli

机译：计算用作测试刺激的m序列中线性相关性的影响
- 作者：Bardell;P.H.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
32.Enhanced delay test generator for high-speed logic LSIs

机译：用于高速逻辑LSI的增强型延迟测试生成器
- 作者：Hatayama K.;Ikeda M.;Hayashi T.;Kishida K.;Takakura M.;Ishiyama S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
33.High-resolution analog measurement on mixed signal LSI tester

机译：混合信号LSI测试仪上的高分辨率模拟测量
- 作者：Akiyama K.;Nishimura H.;Anazawa K.;Kishida A.;Kasuga N.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
34.A logic analyzer tool that cuts e-beam prober acquisition times

机译：逻辑分析仪工具，可减少电子束探测器的采集时间
- 作者：Talbot C.G.;Rajan S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
35.A new array architecture for parallel testing in VLSI memories

机译：一种用于VLSI存储器中并行测试的新阵列架构
- 作者：Matsuda Y.;Arimoto K.;Tsukude M.;Oishi T.;Fujishima K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
36.Techniques for improved testability in the IBM ES/9370 system

机译：IBM ES / 9370系统中提高可测试性的技术
- 作者：Lusch R.F.;Sarkany E.F.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
37.The Omnitest system: a no-generate, no-compile, interactive test methodology

机译：Omnitest系统：一种无需生成，无需编译的交互式测试方法
- 作者：Dettloff;W.D.;Tebbs;M.D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
38.The role of test in a 'continuous improvement' environment

机译：测试在“持续改进”环境中的作用
- 作者：Santella;R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
39.Composite electro-optical testing of surface-mount device boards-one manufacturer's experience

机译：表面安装设备板的复合电光测试-一位制造商的经验
- 作者：Langley;F.J.;Boatright;R.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
40.Cost impacts of automatic test equipment purchase decisions

机译：自动测试设备购买决定的成本影响
- 作者：Pabst J.S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
41.CrossCheck-a practical solution for ASIC testability

机译：CrossCheck-ASIC可测试性的实用解决方案
- 作者：Swan G.;Trivedi Y.;Wharton D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
42.Custom pin electronics for VLSI automatic test equipment

机译：VLSI自动测试设备的定制引脚电子设备
- 作者：Bryson S.W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
43.Design for test of Mbit DRAMs

机译：测试Mbit DRAM的设计
- 作者：Kraus R.;Kowarik O.;Hoffmann K.;Oberle D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
44.Fault diagnosis in analogue circuits using AI techniques

机译：使用AI技术的模拟电路故障诊断
- 作者：McKeon A.;Wakeling A.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
45.High performance electron beam tester for voltage measurement on unpassivated and passivated devices

机译：高性能电子束测试仪，用于非钝化和钝化器件上的电压测量
- 作者：Tokunaga;Y.;Frosien;J.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
46.Issues for mixed-signal CAD-tester interface

机译：混合信号CAD测试仪界面的问题
- 作者：Rosenfeld E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
47.Mainstream ATE: to reduce LSI and VLSI test cost

机译：主流ATE：降低LSI和VLSI测试成本
- 作者：Salter M.W.;Taschioglou K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
48.A telecommunications line interface test system architecture

机译：电信线路接口测试系统架构
- 作者：LaMay J.L.;Caldwell D.C.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
49.A testing technique to characterize E/sup 2/PROM's aging and endurance

机译：表征E / sup 2 / PROM的老化和耐久性的测试技术
- 作者：Lanzoni;M.;Olivo;P.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
50.Process monitoring oriented IC testing

机译：面向过程监控的IC测试
- 作者：Maly W.;Naik S.B.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
51.Rapid data acquisition for e-beam testing

机译：快速采集数据以进行电子束测试
- 作者：Hall D.J.;Sloman A.W.;Plows G.S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
52.The economics of scan design

机译：扫描设计的经济学
- 作者：Levitt M.E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
53.The parallel-test-detect fault simulation algorithm

机译：并行测试检测故障模拟算法
- 作者：Underwood B.;Ferguson J.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
54.Design for testability and test generation for static redundancy system level fault-tolerant circuits

机译：静态冗余系统级容错电路的可测试性和测试生成设计
- 作者：Stroud;C.E.;Barbour;A.E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
55.Efficient generation of test patterns using Boolean difference

机译：利用布尔差有效生成测试模式
- 作者：Larrabee T.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
56.Fast accurate and complete ADC testing

机译：快速准确，完整的ADC测试
- 作者：Max S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
57.Fault location in repairable programmable logic arrays

机译：可修复可编程逻辑阵列中的故障定位
- 作者：Way C.-L.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
58.IC characteristic matching for optimal system performance

机译：IC特性匹配可实现最佳系统性能
- 作者：Stuchlik K.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
59.Main frame diagnosis support system

机译：主机诊断支持系统
- 作者：Tsubuku Y.;Nishida T.;Shiga H.;Ohga K.;Nishine H.;Kaneko M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
60.A unified theory for designing optimal test generation and diagnosis algorithms for board interconnects

机译：设计板互连最佳测试生成和诊断算法的统一理论
- 作者：Yau;C.W.;Jarwala;N.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
61.Test effectiveness metrics for CMOS faults

机译：测试CMOS故障的有效性指标
- 作者：Midkiff S.F.;Koe W.-Y.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
62.Test set embedding in a built-in self-test environment

机译：将测试集嵌入到内置的自测环境中
- 作者：Akers S.B.;Jansz W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
63.The analysis of parallel BIST by the combined Markov chain (CMC) model

机译：组合马尔可夫链（CMC）模型对并行BIST的分析
- 作者：Chuang;C.C.;Gupta;A.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
64.The linear array systolic tester (LAST)

机译：线性阵列收缩测试仪（LAST）
- 作者：Lesmeister G.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
65.Transmission line simulation for testing ISDN devices

机译：用于测试ISDN设备的传输线仿真
- 作者：Oka D.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
66.An analysis of tungsten probes' effect on yield in a production wafer probe environment

机译：在生产晶圆探针环境中分析钨探针对良率的影响
- 作者：Nadeau;N.;Perreault;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
67.An approach to functional level testability analysis

机译：功能级别可测试性分析的方法
- 作者：Chen C.H.;Menon P.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
68.An optimal test sequence for the JTAG/IEEE P1149.1 test access port controller

机译：JTAG / IEEE P1149.1测试访问端口控制器的最佳测试顺序
- 作者：Dahbura;A.T.;Uyar;M.U.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
69.Board-level boundary-scan: regaining observability with an additional IC

机译：板级边界扫描：通过额外的IC重新获得可观察性
- 作者：Ballew;W.D.;Streb;L.M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
70.Cell-based test design method

机译：基于单元的测试设计方法
- 作者：Sakashita K.;Hashizume T.;Ohya T.;Takimoto I.;Kato S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
71.CMOS IC stuck-open-fault electrical effects and design considerations

机译：CMOS IC卡在断路中的电气效应和设计注意事项
- 作者：Soden;J.M.;Treece;R.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
72.Computation of delay defect and delay fault probabilities using a statistical timing simulator

机译：使用统计时序模拟器计算延迟缺陷和延迟故障概率
- 作者：Benkoski;J.;Strojwas;A.J.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
73.Data verification-a prerequisite for heuristic diagnostics

机译：数据验证-启发式诊断的先决条件
- 作者：Gravel D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
74.Fast automatic failbit analysis for DRAMs

机译：DRAM的快速自动故障位分析
- 作者：Malzfeldt W.;Mohr W.;Oberle H.-D.;Kodalle K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
75.Fault simulation in a pipelined multiprocessor system

机译：流水线多处理器系统中的故障仿真
- 作者：Agrawal P.;Agrawal V.D.;Cheng K.-T.;Tutundjian R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
76.Flexible, high-performance pin electronics implementation

机译：灵活，高性能的引脚电子实现
- 作者：King P.N.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
77.Implementation and evaluation of microinstruction controlled self test using a masked microinstruction scheme

机译：使用蒙版微指令方案实现和评估微指令自测
- 作者：Nozuyama;Y.;Nishimura;A.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
78.Low cost testing of high density logic components

机译：高密度逻辑组件的低成本测试
- 作者：Bassett R.W.;Butkus B.J.;Dingle S.L.;Faucher M.R.;Gillis P.S.;Panner J.H.;Petrovick J.G.;Wheater D.L.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
79.A BIST design methodology experiment

机译：BIST设计方法学实验
- 作者：Duncan S.H.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
80.A high performance, 10-volt integrated pin electronics driver

机译：高性能，10伏集成引脚电子驱动器
- 作者：Branson C.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
81.A new framework for analyzing test generation and diagnosis algorithms for wiring interconnects

机译：用于分析互连布线的测试生成和诊断算法的新框架
- 作者：Jarwala;N.;Yau;C.W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
82.A self-test system architecture for reconfigurable WSI

机译：可重配置WSI的自检系统架构
- 作者：Landis D.L.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
83.On the design and test of asynchronous macros embedded in synchronous systems

机译：关于嵌入在同步系统中的异步宏的设计和测试
- 作者：Leenstra;J.;Spaanenburg;L.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
84.Prototype testing simplified by scannable buffers and latches

机译：可扫描的缓冲区和锁存器简化了原型测试
- 作者：Halliday A.;Young G.;Crouch A.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
85.Reconfigurable resource architecture improves VLSI tester utilization

机译：可重新配置的资源架构提高了VLSI测试仪的利用率
- 作者：OKeefe;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
86.SASPL: a test program productivity analysis tool

机译：SASPL：测试程序生产力分析工具
- 作者：Paradis E.;Stannard D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
87.Synthesis of pseudo-random pattern testable designs

机译：伪随机模式可测试设计的综合
- 作者：Iyengar V.S.;Brand D.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
88.Testability expertise and test planning from high-level specifications

机译：可测试性专业知识和高级规范的测试计划
- 作者：Crastes de Paulet;M.;Karam;M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
89.Testing conventional logic and memory clusters using boundary scan devices as virtual ATE channels

机译：使用边界扫描设备作为虚拟ATE通道测试常规逻辑和内存集群
- 作者：Hansen;P.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
90.Topological testing

机译：拓扑测试
- 作者：Malek M.;Mourad A.;Pandya M.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
91.Tradeoff decisions made for a P1149.1 controller design (ATE)

机译：为P1149.1控制器设计（ATE）做出的权衡决策
- 作者：Vining;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
92.An interactive sequential test pattern generation system

机译：交互式顺序测试图案生成系统
- 作者：Razdan R.;Anwaruddin M.;Kovijanic P.G.;Ganesh R.;Shih H.-C.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
93.'ATG' test generation software

机译：“ ATG”测试生成软件
- 作者：Downey;A.E.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
94.CAE functionality for verification of diagnostic programs

机译：用于诊断程序验证的CAE功能
- 作者：Pyron C.;Sallade R.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
95.Characterization of high-speed (above 500 MHz) devices using advanced ATE-techniques, results and device problems

机译：使用先进的ATE技术表征高速（500 MHz以上）设备，结果和设备问题
- 作者：Barton;S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
96.Clock signal distribution network for high speed testers

机译：高速测试仪的时钟信号分配网络
- 作者：Hsue C.-W.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
97.Cost analysis of test method environments

机译：测试方法环境的成本分析
- 作者：Dislis C.;Dear I.D.;Miles J.R.;Lau S.C.;Ambler A.P.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
98.Coupling coefficients for signal lines separated by ground lines on PC boards

机译：PC板上接地线分隔的信号线的耦合系数
- 作者：Birchak;J.R.;Haill;H.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
99.Delay test generation for synchronous sequential circuits

机译：同步时序电路的延迟测试生成
- 作者：Devadas S.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年
100.Design-for-testability using test design yield and decision theory

机译：使用测试设计收益率和决策理论进行可测试性设计
- 作者：Kaminska B.;Savaria Y.
- 会议名称：《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》 | 1989年