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Power Semiconductor Device with Reduced On-Resistance and Increased Breakdown Voltage

机译:降低导通电阻和增加击穿电压的功率半导体器件

摘要

In one implementation, a power semiconductor device includes an active region and a termination region. A depletion trench finger extends from the active region and ends in the termination region. An arched depletion trench surrounds the depletion trench finger in the termination region, the arched depletion trench enables one or both of an increased breakdown voltage and a reduced on-resistance in the power semiconductor device.
机译:在一个实施方式中,功率半导体器件包括有源区和终止区。耗尽沟槽指从有源区延伸并终止于终止区。拱形的耗尽沟槽在终止区域中围绕耗尽沟槽指状部,拱形的耗尽沟槽使得功率半导体器件中的击穿电压增加和导通电阻减小中的一者或两者。

著录项

  • 公开/公告号US2014332879A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL RECTIFIER CORPORATION;

    申请/专利号US201414249725

  • 发明设计人 TIMOTHY D. HENSON;

    申请日2014-04-10

  • 分类号H01L29/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:25:47

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