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Systems and Methods for Sub-Zero Threshold Characterization in a Memory Cell

机译:用于存储单元中零次阈值表征的系统和方法

摘要

Systems and method relating generally to data processing, and more particularly to systems and methods for characterizing a solid state memory.
机译:通常涉及数据处理的系统和方法,并且更具体地涉及用于表征固态存储器的系统和方法。

著录项

  • 公开/公告号US2015117097A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LSI CORPORATION;

    申请/专利号US201314085553

  • 发明设计人 YUNXIANG WU;YU CAI;ERICH F. HARATSCH;

    申请日2013-11-20

  • 分类号G11C16/34;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:23:13

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