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Epitaxial growth of compound semiconductors using lattice-tuned domain-matching epitaxy

机译:使用晶格调谐的畴匹配外延生长化合物半导体的外延生长

摘要

A method of epitaxially growing a final film using a crystalline substrate wherein the final film cannot be grown directly on the substrate surface is disclosed. The method includes forming a transition layer on the upper surface of the substrate. The transition layer has a lattice spacing that varies between its lower and upper surfaces. The lattice spacing at the lower surface matches the lattice spacing of the substrate to within a first lattice mismatch of 7%. The lattice spacing at the upper surface matches the lattice spacing of the final film to within a second lattice mismatch of 7%. The method also includes forming the final film on the upper surface of the transition layer.
机译:公开了一种使用结晶衬底外延生长最终膜的方法,其中最终膜不能直接在衬底表面上生长。该方法包括在衬底的上表面上形成过渡层。过渡层的晶格间距在其下表面和上表面之间变化。下表面的晶格间距与衬底的晶格间距相匹配,以达到7%的第一晶格失配。上表面的晶格间距与最终薄膜的晶格间距相匹配,处于第二晶格失配7%之内。该方法还包括在过渡层的上表面上形成最终膜。

著录项

  • 公开/公告号US2015090180A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ULTRATECH INC.;

    申请/专利号US201314040326

  • 发明设计人 ANDREW M. HAWRYLUK;DANIEL STEARNS;

    申请日2013-09-27

  • 分类号C30B25/18;C30B25/06;C30B29/10;C30B23/02;C30B29/40;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:23:03

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