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Method of Growing Gallium Nitride-Based Crystal and Heat Treatment Apparatus

机译:生长氮化镓基晶体的方法和热处理装置

摘要

There is provided a method of growing a gallium nitride-based crystal, including: forming an interlayer including aluminum nitride or aluminum oxide on a silicon substrate at a film forming temperature of 350 to 700 degrees C.; heating the silicon substrate and the interlayer in an atmosphere containing ammonia or oxygen such that crystal nuclei of the aluminum nitride or the aluminum oxide included in the interlayer are distributed on the silicon substrate; and growing gallium nitride-based crystals on the silicon substrate from the crystal nuclei distributed on the silicon substrate.
机译:提供一种生长氮化镓基晶体的方法,该方法包括:在350至700℃的成膜温度下在硅基板上形成包含氮化铝或氧化铝的中间层;以及在氮化硅基晶体上形成包含氮化铝或氧化铝的中间层。在包含氨或氧的气氛中加热硅衬底和中间层,使得包括在中间层中的氮化铝或氧化铝的晶核分布在硅衬底上;从分布在硅衬底上的晶核在硅衬底上生长氮化镓基晶体。

著录项

  • 公开/公告号US2015221512A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOKYO ELECTRON LIMITED;

    申请/专利号US201514607591

  • 发明设计人 KOTA UMEZAWA;YOSUKE WATANABE;

    申请日2015-01-28

  • 分类号H01L21/02;C30B25/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:22:05

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