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Integrated circuit design method for improved testability

机译:集成电路设计方法,以提高可测试性

摘要

A display device is provided with a display panel; and a display panel driver driving the display panel in response to externally-provided image data. The display panel driver includes a display memory for storing the image data, and is configured to perform overdrive processing on the image data read from the display memory. The display panel driver includes an overdrive processing control circuit detecting writing of the image data into the display memory to control operation and halt of a circuit used for the overdrive processing.
机译:显示装置具备显示面板。显示面板驱动器响应于外部提供的图像数据来驱动显示面板。显示面板驱动器包括用于存储图像数据的显示存储器,并且被配置为对从显示存储器读取的图像数据执行过驱动处理。显示面板驱动器包括检测图像数据到显示存储器中的写入的过驱动处理控制电路,以控制用于过驱动处理的电路的操作和停止。

著录项

  • 公开/公告号US9135871B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAKASHI NOSE;HIROBUMI FURIHATA;

    申请/专利号US201213566518

  • 发明设计人 HIROBUMI FURIHATA;TAKASHI NOSE;

    申请日2012-08-03

  • 分类号G09G3/36;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:21:47

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