首页> 外国专利> Pattern matching based on global quantitative characterization of patterns

Pattern matching based on global quantitative characterization of patterns

机译:基于模式的全局量化特征的模式匹配

摘要

Various systems, methods, and programs embodied in computer-readable mediums are provided for detecting a match in patterns. In one embodiment, a method is provided that comprises performing a fractal analysis on a first pattern in a computer system to generate a first global quantitative characterization of the first pattern. The method further comprises comparing the first global quantitative characterization with a second global quantitative characterization associated with a second pattern in the computer system to determine whether the first pattern matches the second pattern. The second global quantitative characterization is generated from the second pattern.
机译:提供了包含在计算机可读介质中的各种系统,方法和程序,用于检测模式匹配。在一个实施例中,提供了一种方法,该方法包括在计算机系统中对第一图案进行分形分析以生成第一图案的第一全局定量表征。该方法还包括将第一全局定量表征与与计算机系统中的第二模式相关联的第二全局定量表征进行比较,以确定第一模式是否与第二模式匹配。第二全局定量表征是从第二模式生成的。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号