机译:光学各向异性纳米粒子弛豫测量的分子检测光学测量方法
公开/公告号EP2147314B1
专利类型
公开/公告日2015-04-15
原文格式PDF
申请/专利权人 AIT AUSTRIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY GMBH;TECNET EQUITY NÖ TECHNOLOGIEBETEILIGUNGS-INVEST GMBH;
申请/专利号EP20080714306
申请日2008-03-27
分类号G01N21/17;G01N33/543;B82Y15/00;B82Y30/00;G01N21/25;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 15:08:35