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Method of manufacturing a silver alloy bump for a semiconductor structure using a cyanide-based plating bath

机译:使用基于氰化物的镀浴制造用于半导体结构的银合金凸块的方法

摘要

The present disclosure provides a method for manufacturing a semiconductor structure. The method includes forming a conductive pad (102) on a semiconductor die (100); forming a seed layer (105) over the conductive pad (102); defining a first mask layer (109) over the seed layer (105); and forming a silver alloy bump body (101) in the first mask layer (109). The forming a silver alloy bump body (101) in the first mask layer (109) includes operations of preparing a first cyanide-based bath (113); controlling a pH value of the first cyanide-based bath (113) to be within a range of from about 6 to about 8; immersing the semiconductor die (100) into the first cyanide-based bath (113); and applying an electroplating current density of from about 0.1 ASD to about 0.5 ASD to the semiconductor die (100). The silver alloy of the silver alloy bump body (101) comprises gold and/or palladium. The first cyanide-based bath (113) comprises KAg(CN)2, KAu(CN)2 and/or K2Pd(CN)4.
机译:本公开提供了一种用于制造半导体结构的方法。该方法包括在半导体管芯(100)上形成导电焊盘(102);在导电垫(102)上形成种子层(105);在种子层(105)上限定第一掩模层(109);在第一掩模层(109)中形成银合金凸块体(101)。在第一掩模层(109)中形成银合金凸块体(101)包括制备第一氰化物基浴(113)的操作;将第一氰化物基浴(113)的pH值控制在约6至约8的范围内;将半导体管芯(100)浸入第一氰化物基浴(113)中;向半导体芯片(100)施加约0.1ASD至约0.5ASD的电镀电流密度。银合金凸块主体(101)的银合金包括金和/或钯。第一基于氰化物的浴(113)包含KAg(CN)2,KAu(CN)2和/或K 2 Pd(CN)4。

著录项

  • 公开/公告号EP2879169A2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHIPMOS TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号EP20130194234

  • 发明设计人 CHENG SHIH JYE;LU TUNG BAO;

    申请日2013-11-25

  • 分类号H01L21/60;C25D3/64;C25D3/48;H01L23/485;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 15:02:38

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